首页 > IPC(国际)专利分类 > 缺陷
| 本次共搜索到27个相关记录,最佳推荐0个
相关推荐
测试缺陷的存在
用于测试缺陷的存在
测试缺陷的存在〔3〕
缺陷在半导体体内的〔2〕
缺陷在半导体表面的〔2〕
掩膜缺陷的修复或校正〔2012.01〕
测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕
应用于缺陷,如不响应的像素〔2011.01〕
电弧切割、刨削、表面缺陷清除或清除表面金属〔5〕
共3页
缺陷类出售中的专利推荐
缺陷类专利知讯推荐
专利免费查询
专业顾问快速帮你查询缺陷相关专利
已有376274人获得查询结果
快捷工具
商标成功率查询
有效提高注册成功率
免费找商标
海量资源,早买早用
商标进度查询
全方位监测商标动态
专利年费计算器
及时缴费,防止专利无效
免费找专利
快速匹配,最快30天可用
服务推荐
在线顾问
*我们会致电为您详细解答
官方公众号接收订单动态
商标进度查询风险动态监测