首页 > IPC(国际)专利分类 > 测试缺陷
| 本次共搜索到284个相关记录,最佳推荐0个
相关推荐
测试缺陷的存在
用于测试缺陷的存在
测试缺陷的存在〔3〕
测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕
测试缺陷或杂质存在 〔1,3,5,2006.01,2018.01〕
缺陷在半导体体内的〔2〕
缺陷在半导体表面的〔2〕
掩膜缺陷的修复或校正〔2012.01〕
应用于缺陷,如不响应的像素〔2011.01〕
共24页
测试缺陷类出售中的专利推荐
测试缺陷类专利知讯推荐
专利免费查询
专业顾问快速帮你查询测试缺陷相关专利
已有376274人获得查询结果
快捷工具
商标成功率查询
有效提高注册成功率
免费找商标
海量资源,早买早用
商标进度查询
全方位监测商标动态
专利年费计算器
及时缴费,防止专利无效
免费找专利
快速匹配,最快30天可用
服务推荐
在线顾问
*我们会致电为您详细解答
官方公众号接收订单动态
商标进度查询风险动态监测